激光粒度儀是一種新型的粒度測試儀器，主要適用于微米級(jí)顆粒的測試，經(jīng)過改進(jìn)也可將測量下限擴(kuò)展到幾十納米。用戶在對(duì)于激光粒度儀的操作方法是需要掌握的，下面小編就來具體介紹一下激光粒度儀正確操作方法，希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。

激光粒度儀操作方法

1.樣品準(zhǔn)備

樣品必須能夠準(zhǔn)確反映待測物質(zhì)，確保使用的樣品是具有代表性的，若樣品儲(chǔ)存在容器中，測量前樣品應(yīng)充分混合，確保大小顆粒都被取樣。液體樣品需要選擇合適的泵速確保樣品充分混合，防止大顆粒沉入容器底部而沒有被測量;干法測量結(jié)束后不要在樣品盤上有殘留樣品，盡量保證所有樣品顆粒都被測量。

2.光學(xué)系統(tǒng)的潔凈度

激光散射測量是一種高分辨的光學(xué)檢測手段，樣品池檢測窗是測量區(qū)域的主要組成部件，窗口的灰塵和污染物質(zhì)會(huì)散射激光，雜質(zhì)散射光會(huì)隨分散樣品的散射光一起被測量，從而影響測量的精度。通過觀測測量背景就能判斷系統(tǒng)的光學(xué)潔凈程度是否達(dá)標(biāo)。

3.基本測量

一個(gè)完整測量過程包括電子背景測量，光學(xué)背景測量和對(duì)光，加入樣品，開始粒徑測量，完成測量。進(jìn)入測量過程后，軟件界面的左下方會(huì)有對(duì)話框指示測量的進(jìn)程。

1)測量背景：顆粒區(qū)的測量數(shù)據(jù)，由于受到設(shè)備電子背景噪音，測試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會(huì)有一定的偏差。通過“測量背景”能純化粒徑測量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會(huì)從樣品測量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。

2)選擇測量參數(shù)：按下Option，出現(xiàn)Measure Option窗口，其中Material 一欄提示操作人員測量樣品的光學(xué)參數(shù)，分散介質(zhì)，數(shù)據(jù)分析模型;Measurement顯示欄確定樣品和背景測量時(shí)間。*測量時(shí)間由樣品顆粒大小形狀及分布范圍和使用的分散附件決定，若樣品分布是單模的，其基本粒度特征使用較少的測量時(shí)間就可獲得，反之較寬粒度分布的物質(zhì)需要較長的測量時(shí)間。測量樣品的光學(xué)參數(shù)包括樣品的折射率RI，吸收率Absorption，一般常見物質(zhì)的光學(xué)參數(shù)軟件中有記錄，可以直接選用;若是新的物質(zhì)，軟件庫中沒有記錄，則需要操作人員自行添加樣品光學(xué)參數(shù)。注意對(duì)于MS2000一般應(yīng)用來說，吸收率是按10的倍數(shù)變化，只有1為有效數(shù)字。在光學(xué)顯微鏡下透明的物質(zhì)，其吸收率為0，全黑的物質(zhì)吸收率為1，其他則為0.001，0.01，0.1。注意肉眼認(rèn)為不透光的可能還是0.01的吸光度，判定依據(jù)是在光學(xué)顯微鏡下查看是否透光。

3)加入樣品：在背景測量結(jié)束后，出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度Obscuration指示欄直觀地表示測量樣品的數(shù)量，遮光度會(huì)隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前，右方的測量數(shù)據(jù)柱狀圖應(yīng)該是隨機(jī)變化，而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過5。

4)開始測量：當(dāng)遮光度達(dá)到測量要求，停止添加樣品后保持穩(wěn)定(一般意味著樣品顆粒沒有發(fā)生溶解或凝聚，樣品顆粒正常穩(wěn)定分散)，同時(shí)測量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的，足夠強(qiáng)度的柱狀數(shù)據(jù)分布，可以按下“Start”鍵開始測量。

4.查看結(jié)果

一旦測量完成，測量信息被軟件收集和分析，將以多種形式顯示。每種顯示數(shù)據(jù)的方式又稱為報(bào)告，測量窗口中所有的報(bào)告均顯示相同的測量數(shù)據(jù)。所有的測量和分析數(shù)據(jù)都存在“Record”中，Record 存放在測量文件里(*.mea)。一個(gè)測量文件包含一個(gè)或多個(gè)記錄，一條記錄包含了單個(gè)測量的所有信息，包括原始測量數(shù)據(jù)和計(jì)算粒度分布的參數(shù)。可以選擇File-Open打開測量文件。